半导体材料全新解决方案：进口激光粒度仪如何选？
在科技飞速发展的今天，半导体行业是推动全球经济与社会进步的核心力量。从智能手机到超级计算机，从智能家居到自动驾驶汽车，都离不开半导体技术，它正全方位重塑我们的生活与工作。
粒度和粒形对半导体材料性能的影响：
在半导体材料的研发与生产过程中，粒度和粒形是决定材料性能的关键因素之一。
以氮化硅陶瓷粉体为例，其粒度分布与形状会直接影响制成的陶瓷基板的致密性、导热性、机械强度，以及基板与芯片的结合性能。
-粒度过大：可能导致陶瓷基板内部孔隙增多，降低导热效率和机械强度。
-粒度过小：可能引发烧结过程中颗粒团聚，影响材料的均匀性和性能稳定性。
因此，精确的粒度和粒形分析对于控制半导体材料的质量、优化生产工艺、提高产品性能至关重要。
德国新帕泰克公司的激光粒度仪HELOS为半导体材料的粒度分析带来了全新的解决方案。以下来了解下该公司的基本信息及产品优势。
德国新帕泰克是集研发、制造、销售、技术服务和支持为一体的粒度分析仪制造商，为全世界的客户提供实验室及工业在线的一系列粒度粒形分析仪。
新帕泰克致力于基于激光衍射、动态图像分析、超声衰减原理及光子交叉相关光谱法(PCCS)的粒度测试技术的开创，并在具有挑战性的应用中拥有理想的性能优势，帮助解决颗粒体系的研发、生产与质量控制难题。
如今，德国新帕泰克的粒度仪已经广泛应用于如干粉、造粒、纤维、悬浮液、乳浊液、气溶胶、喷雾和吸入剂等的粒度测试，测试范围从0.5 nm到34.000 m。模块化的设计，可以根据实验室需要组合应用，同时也可整合到在线系统。此外，使用新帕泰克的仪器，在更短的测试时间内获得具有更高准确度、测试重复性及仪器可比性的粒度测试结果!
干法激光粒度仪HELOS&RODOS突破性优势：
-专利干法分散技术：配备全自动干法分散系统RODOS，采用压缩气流高效分散超细氮化硅材料粉体，干样干测，无需使用溶剂，避免颗粒团聚。
-瞬时分散、瞬时测量：自由分散区域，无软管残留及二次团聚。
-高效测试：从进样到出结果仅需几秒钟，测试速度快，分析效率高。
-高精度与重复性：最高可达0.04微米分辨率，结合稳定的干法分散技术，确保每次测试结果的重复性和可靠性。
原文转载：https://fashion.shaoqun.com/a/2613089.html
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